国家空间科学中心 空间天气学国家重点实验室 空间抗辐射平台
用户登录
星用载荷抗辐射验证十万火急,脉冲激光试验大显神通
发布日期:2019-02-04 12:21:16

201923日,农历戊戌狗年最后一工作日,很多小伙伴是不是都提前开溜喜迎“肥猪”了吧,承担国家重大航天型号任务的某单位却急需针对重要载荷开展抗单粒子锁定设计试验验证,真服了咱航天人!用户的需求就是“小抗”的使命,已在家乡置办年货和准备年夜饭的我研究室单粒子效应脉冲激光试验工程师,在一通电话的急招下,连夜打飞的凌晨抵京准备试验。

238点整,连夜由外地赶赴北京的载荷设计师和返京的单粒子试验工程师齐聚中科院空间中心中关村园区,开始试验。利用激光试验单粒子效应开放的工作环境,历经半小时,载荷设计师完成了待试验电路的安装与调试,单粒子试验工程师也完成了激光装置的初始化工作。830分,开始对关键芯片进行激光扫描辐照,分别在9点和9点半左右,两次诱发了芯片锁定,对芯片的锁定情况进行了初步摸底。

10点半左右,试验再次诱发芯片锁定,激光停止辐照,开始试验电路系统对锁定的防护措施。芯片一旦锁定会进入高电流和高温状态,电路系统的防护模块监测到电流及温度超过预设阈值后主动调控芯片工作参数,使得芯片锁定电流及温度至可安全范围。至19点左右,被防护的芯片保持稳定的锁定电流达8小时,芯片的工作温度始终稳定未升高。最后,对电路系统进行断电和重上电,芯片电参数、功能及工作温度均恢复正常。试验验证了电路系统的单粒子锁定防护措施是可行与有效的!

11.png              22.png

         接受激光辐照的载荷电路板                                    载荷设计师现场测试


33.png              44.png

               芯片正常工作电流与电压                        单粒子锁定后芯片工作电流与电压


55.png              6.png

                   测试芯片锁定后的温度                         被防护的芯片锁定8小时后重上电后电流与电压


快速响应和操作便捷的脉冲激光试验,能够为型号任务抗单粒子效应的器件选用评估及电路系统加固设计调试与验证提供关键支撑,“快、省、好”地保障国家航天型号任务的进度与在轨安全可靠。

我研究室的单粒子效应脉冲激光试验在农历戊戌年最后工作日完美收官。恭祝各位航天同仁2019年猪年诸事大吉!卫星抗辐射!载荷抗辐射!器件抗辐射!