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商用单片机的单粒子效应试验
发布日期：2014-04-21 14:56:39
      受某大学委托，对某卫星上使用的A、B两款商用单片机芯片进行了单粒子翻转、闩锁效应敏感性的测试。
 
      激光辐照对A单片机造成的所有错误均为软错误，通过看门狗复位或下电再上电能够消除，单片机的code区程序没有被破坏。A单片机的单粒子翻转及单粒子瞬态脉冲效应的阈值能量小于7nJ，在试验能量范围内未出现单粒子闩锁效应，试验过程中多次发生程序重启的现象。B单片机单粒子翻转、单粒子瞬态脉冲效应及单粒子闩锁效应阈值能量均小于1nJ，试验过程中多次出现过流导致电源掉电，使得芯片不工作。