利用脉冲激光装置先后对4N49、HCPL-5231型号光电耦合器进行了激光脉冲模拟单粒子瞬态脉冲效应（SET）实验。实验通过固定不同能量值对器件敏感点进行扫描，分别进行了SET阈值测试、SET脉冲宽度统计、SET截面测试等实验，获得了丰富的实验数据，与国外同型号器件的重离子实验数据具有相当的一致性。并进一步探讨了脉冲激光测试光电耦合器截面的方法和技术，拓展了脉冲激光在评估器件单粒子效应方面的应用。为该类器件的空间应用和抗SET效应国产器件的研制提供了相应的技术支持。

HCPL-5231光敏部分