我研究室科技人员充分发挥脉冲激光单粒子效应实验装置的特点，精确控制辐照芯片的激光脉冲个数—准确模拟空间高能粒子个数，精细扫描辐照芯片部位，在国际上首次试验了多次单粒子锁定事件对星用器件和电路的影响。试验发现，在器件已经形成单粒子锁定现象、未烧毁、使锁定现象维持的状态下，继续利用脉冲激光辐照器件，会形成后续多个锁定事件，并且器件的锁定电路逐步增大、工作电压逐步降低，导致电路出现系列响应。

 利用这种多次单粒子锁定现象，可以深刻揭示单粒子锁定的机理以及与器件工艺、工作条件等的关系，具有重要的研究意义。在工程实践中，这种多次单粒子锁定将比单次锁定具有更强的破坏性，必须加以重视和防范。深入的研究正在进行中。