2009年8月10日，中国科学院院刊2009年第四期在“科研进展”版块（http://www.cas.ac.cn/10000/10010/10005/10020/10003/2009/137518.htm），报道了我研究室利用国内首台基于自主技术研制的脉冲激光单粒子效应实验装置，针对卫星用高性能CPU、SRAM等器件的单粒子效应，开展的微区扫描测试和定量评估工作。实践表明，脉冲激光装置是进行卫星用器件单粒子效应敏感度评估、电路抗单粒子效应设计验证、自主抗单粒子效应集成电路设计效果试验的有力工具，是元器件空间环境特殊效应试验的重要平台，对促进我国卫星产品和国产宇航器件抗单粒子效应设计水平的提高具有重要意义。