5月24日至27日，第五届电子元器件辐射效应国际会议（ICREED2023）在云南昆明召开。本次会议由云南师范大学等单位主办，空间中心等单位协办，设有辐射效应和基本机制、抗辐射技术与模拟、新型器件和电路、单粒子效应四个分会场，来自中国、法国、俄罗斯、美国等近400位专家学者围绕电子材料和器件辐射效应损伤机理、电子/光电器件与电路辐射效应、空间电子系统新概念、辐射评估和测试技术、空间和地面辐射效应表征等方向进行了交流与分享。

空间中心太阳活动与空间天气重点实验室空间天气效应中心团队共10人参与本次会议，韩建伟研究员和马英起正高工受邀为会议技术委员会委员，上官士鹏高级工程师、陈睿副研究员作特邀报告，博士生王籽彧、梁亚楠博士、陈钱博士、博士生吴昊和硕士生辛金豆、刘羽寒等进行口头或海报报告。经专家评议，空间中心上官士鹏高级工程师获最佳口头报告奖，陈钱博士获最佳海报奖。

会议促进了电子元器件辐射效应领域新理论、新方法、新技术等的交流与合作。空间中心与会人员向国内外同行专家全面介绍了空间天气效应中心团队在辐射效应机理研究、试验与仿真评估、加固防护设计等方面的最新研究成果，及一站式、全链路、快响应的激光模拟重离子、质子/电子加速器、一维/三维效应仿真及数据库综合平台优势，与国内外合作单位一起努力发展并推动效应机理研究与抗辐射加固技术体系实现新突破。

空间中心部分参会人员合影

最佳口头报告颁奖

最佳海报颁奖