12月13日晚，受中国科学院大学微电子学院邀请，在其主办的“面向高可靠应用领域的微电子前沿技术”系列讲座中，我研究室韩建伟研究员做了题为“抗辐射及高可靠集成电路激光试验测试技术”讲座，来自国科大微电子学院以及其他学院的学生和老师一同听取了此次讲座。

   讲座以激光与物质相互作用、激光试验器件单粒子效应、激光试验器件核爆剂量率效应、激光攻击破译密码芯片和激光检测定位集成电路缺陷五大块内容为核心依次展开进行介绍与讲解。报告首先介绍了激光与半导体材料的相互作用的理论基础，经过研究室多年的研究发展实现了通过激光模拟空间环境中重离子或核辐射对芯片产生的影响，创造了一种桌面式的试验环境，在激光能量传输、器件单粒子扫描测绘及收集电荷脉冲测量等关键技术上实现了突破，支撑了星用及装备用器件的筛选和抗辐射加固电路的设计及验证。其次介绍了激光试验技术在密码芯片破译及集成电路缺陷检测定位等技术领域的拓展应用情况，重点介绍了激光对破译密码芯片的贡献，通过激光主动攻击密码芯片精确诱发运算数据错误的方式，能够实现对密码算法的破解，这种精确的攻击方式能够大大提高密码破译的可能性和效率。

讲座中激光检测定位集成电路缺陷和试验器件单粒子效应技术一直是集成电路测试技术领域的热点与前沿问题。本次讲座持续近两个小时，引发了国科大学子和老师的热烈反响，讲座结束后主讲人与在座的学生和老师就感兴趣的话题进行了进一步探讨。